xdlm 237 -菲希爾x射線(xiàn)熒光測厚儀代理 有三個(gè)型號:XDLM 231具有平面支撐臺,XDLM 232具有手動(dòng)操作的X / Y臺。 XDLM 237配備了一個(gè)電動(dòng)X(jué) / Y平臺,當打開(kāi)防護罩時(shí),該平臺會(huì )自動(dòng)移到裝載位置。
查看詳細介紹無(wú)損鍍銀測厚儀 fischer x-ray xdl 230 能量散射X射線(xiàn)熒光光譜法(EDXRF)作為鍍層厚度測量和材料分析的方法,可用來(lái)定量和定性分析樣品的元素組成,也可用于鍍層和鍍層系統的厚度測量。無(wú)論是在實(shí)驗室還是工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境中,這一方法都能完美勝任,并還可以與現代化設備一起發(fā)揮作用。
查看詳細介紹*費希爾x-ray xan x射線(xiàn)熒光測量?jì)x X-RAY XAN 220是一種優(yōu)化的X射線(xiàn)熒光測量?jì)x器,用于珠寶、硬幣和貴金屬的無(wú)損分析。它特別適合分析貴金屬及其合金的成分和涂層厚度。在氯(17)到鈾(92)范圍內可同時(shí)測定多達24種元素。FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220和XAN 222符合DIN ISO 3497和ASTM B568。
查看詳細介紹XDAL237 X射線(xiàn)熒光測厚儀 憑借電機驅動(dòng)(可選)與自上而下的測量方向,XDL系列測量?jì)x器能夠進(jìn)行自動(dòng)化的批量測試。提供 X 射線(xiàn)源、濾波器、準直器以及探測器不同組合的多種型號,從而能夠根據不同的測量需求選擇適合的 X 射線(xiàn)儀器。在設計上,FISCHERSCOPE XRAY XDAL型儀器和XDLM型儀器相對應。
查看詳細介紹xan500fischer德國* 手持式、臺式、在線(xiàn): XAN®500型X射線(xiàn)熒光儀器是菲希爾到目前為止功能多樣化的設備。它既可以作為手持式設備使用,也可以作為封閉式的臺式機或是直接整合到生產(chǎn)線(xiàn)中。
查看詳細介紹便攜式x射線(xiàn)測厚儀* XAN®500型X射線(xiàn)熒光儀器是菲希爾到目前為止功能多樣化的設備。它既可以作為手持式設備使用,也可以作為封閉式的臺式機或是直接整合到生產(chǎn)線(xiàn)中。在配備了平板電腦后,XAN500同樣采用久經(jīng)考驗的WinFTM軟件?;诨緟捣ǖ腤inFTM軟件不僅能進(jìn)行材料分析,還能測量鍍層厚度,并可實(shí)現無(wú)校準(不需標準片)測量。
查看詳細介紹德國FISCHER公司X-RAY熒光測厚儀 HELMUT FISCHER制造用于鍍層厚度測量和材料分析的X射線(xiàn)熒光系統有超過(guò)17年的經(jīng)驗。 通過(guò)對所有相關(guān)過(guò)程包括X射線(xiàn)熒光測量法的精確處理和使用了新的軟件和硬件技術(shù),FISCHER 公司的X射線(xiàn)儀器具有其*的特點(diǎn)
查看詳細介紹德國Fischer x射線(xiàn)測厚儀 XULM 240代理 XULM特別適合測量細小的部件如連接器,觸點(diǎn)或線(xiàn),也可以測量印刷線(xiàn)路板上的Au,Ni和Cu鍍層厚度。即使80nm的很薄的金鍍層也可以用測量點(diǎn)為Ø0.25mm的準直器測量,20秒的重復精度可達2.5nm。
查看詳細介紹Fischerscope x-ray xan120熒光x射線(xiàn)測厚儀 但是,如果合金中很多元素要測量或存在光譜重疊情況,那么配備半導體探測器的儀器,如XAN120,應該更加適合。由于具備非常好的分辨率,它也可以用來(lái)區分例如在牙合金中非常關(guān)鍵的金和鉑以及融合的貴金屬合金。
查看詳細介紹x射線(xiàn)鍍層與合金的材料分析儀 作為在生產(chǎn)測量中使用X射線(xiàn)熒光法的*驅?zhuān)葡柡茉缇鸵庾R到此方法在鍍層厚度測量和材料分析領(lǐng)域的巨大潛力,因而開(kāi)始研發(fā)和制造工業(yè)級耐用的測量?jì)x器
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